电力电子电容器通常应用于非工频场合，其耐峰值电流和耐冲击电流能力是关键技术参数，由于耐电流能力是金属化薄膜电容器的最薄弱环节，所以有该指标的产品必须进行耐电流能力的试验考核。采用大功率电子开关组成电容器充放电回路，通过调节充电电压或放电回路参数来定量控制放电电流、电流衰减周被和电流电压变化率，试验方祛快捷简便、实用，是薄膜电容器进行设计验证和质量控制的有效手段。
电流冲击试验的严酷度主要由以下参数决定：
1、大放电电流值，其峰值大小取决于充电电压和放电回路的阻抗。
2、电流变化率(di/d1)，主要由放电回路的电感L决定，电感L越小电流变化率越高。
3、放电电流的衰诚振荡频率f取决于被测电容C，和回路电感L。
4、放电电流周被数取诀于放电回路的电阻R，在同样电流峰值和变化率下，周波数多，严酷度就高。
因此我们就这些参数进行电流冲击试验：
1、设定充电电压值U，电压值决定放电电流峰值，I=U/R。
2、设定充电时间根据被试电容器容量C、充电电源内阻r和所需电压U，确定充电时间。
3、充电开关s由可调时间继电器控制，S闭合，可调直流电源E给试验电容器C.充电。
4、充电时间到，S打开，充电结束，控制电路发出脉冲给可控硅SCR ，SCR导通.电容器C，开始放电。
5、由于放电回路存在电阻和电感，放电过程是震荡衰减，经过几个周被后震荡结束，电流为零可控硅SCR关闭，从开始震荡到结束的几个周波时间一般远小于1 s。
6、放电结束后，充电开关闭合又开始充电，重复上述试验。
以上就是我们薄膜电容的电流冲击试验的内容了，东莞市智旭电子专业生产安规电容，压敏电阻，高压电容，薄膜电容，更多优质的电容器尽在JEC电容厂。以上资讯来自东莞市智旭电子有限公司研发部提供，更多资讯请大家移步至网站中智旭资讯中获取。
